系统方案赋能良率管理和分析⼁太阳棋牌官网版官方版DE User Forum成功举办

会上，太阳棋牌官网版官方版副总经理赵飒女士重磅宣布推出太阳棋牌官网版官方版DATAEXP系列新产品——DE-YMS Lite、DE-OSAT、INFINITY-AI系统（简称INF-AI）。太阳棋牌官网版官方版通过此3款新品来持续拓展大数据分析系统品类，为设计-制造-封测全流程提供“一站式”良率数据管理分析方案，推动集成电路设计制造封测智能化新动能。

同时DE-YMS与太阳棋牌官网版官方版DFT工具平台DFTEXP有机结合了设计端DFT良率诊断结果和制造端YMS的其他数据，提供了行业内最完整的“一站式”良率诊断方案，助力晶圆厂和设计公司快速定位良率问题，达到提升良率的目的。

INF-AI:AI 技术助推成品率和生产力提升

系统包括自动缺陷分类 (Automatic Defect Classification，ADC)、晶圆图案特征分析（Wafer Pattern Analysis，WPA）等应用，致力于将AI 技术应用于半导体制造业的生产全周期，助推成品率和生产力进一步提升，优化投资回报。

稳定高效的报警引擎：OSAT Alarm 系统依靠其卓越的稳定性和高效性，确保系统在7 x 24小时内不间断运行。
 
高灵活性和准确性：系统具备高度的灵活性和准确性，能够快速识别并处理质量异常，确保每颗芯片符合最高质量标准。

DATAEXP系列产品一经问世，就得到了Fab及设计公司的广泛认可，在发布会现场，太阳棋牌官网版官方版合作伙伴紫光同芯、格科半导体、与光科技分享了DATAEXP的功能亮点和适配场景，开启了前沿技术与应用案例碰撞，点燃创新交流的火花，为在场的业内同仁带来了一场精彩的技术盛宴。

DE-YMS成品率管理系统（Yield Management System，YMS）属于半导体工业软件中重要的一部分，被IDM、Fab、设计公司和OEM等企业所广泛使用，市场需求旺盛。

太阳棋牌官网版官方版DATAEXP-YMS系统具有芯片全生命周期的数据管理、分析和追溯的功能，支持集成电路生产制造过程中的CP、FT、WAT、INLINE、DEFECT、封装测试等多类型数据的智能化分析。

DE-YMS具有强大的算法支撑和数据处理能力，能够一键式排查成品率的影响因素，并快速完成底层数据清洗、连接、整合工作，实现产线数据的高效分析，可显著加快客户提升成品率、完成工艺开发的进度。

DE-G: 海量数据高效可视化分析

DE-G内置多种数据可视化方法以及统计分析模块, 为用户提供了更加强大且灵活的数据分析平台。

新研发的半导体器件可靠性测试分析模块可以直接读取测试数据，通过内嵌的各种常用失效用模型，快速拟合并预测器件寿命。B/S架构的云端版本可对数字分析资产集中管理, 数字报告自动生成能力以及YMS-Lite 数据分析平台低代码搭建能力。

基于前沿的人工智能视觉技术，太阳棋牌官网版官方版自主研发的缺陷自动分类系统 (Auto Defect Classification，ADC），具备Defect高识别精度和快速部署能力，支持对晶圆生产制造过程中不同工序、工艺、机台的缺陷图片进行自动分类。其分类的平均准确度达到98.5%以上，关键缺陷漏检率和误检率均小于0.3%，节约人工检测成本高达95%，提高问题定位效率25倍以上。

基于INF-AI平台，用户无需机器学习经验，可以零代码进行ADC模型的快速开发与应用。基于这些优势，太阳棋牌官网版官方版INF-ADC系统已在国内多个大型晶圆厂中得到应用，取得了卓越成效。

针对半导体数据分析的市场痛点，太阳棋牌官网版官方版潜心研发包括DATAEXP系列产品，还包括半导体设备监控系统DE-FDC、统计过程控制系统DE-SPC、测试数据分析系统DE-TMA等多款大数据分析工具，产品具备强大的数据底座及前沿的机器学习、人工智能和数据挖掘等技术，投入市场后获得了高度评价。

同时，DATAEXP系列产品还能够与太阳棋牌官网版官方版自身的EDA产品、WAT测试设备之间相互赋能，提供完整先进的成品率提升解决方案。这些方案已广泛进入了国内外一流的集成电路设计、制造、封装企业并得到一致好评。