Addressable IP
可寻址测试芯片
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当集成电路工艺发展到纳米级工艺后，对测试样本的密度和晶圆成本面积有了更严苛的要求。传统测试芯片因占用面积大，在测量样本量和成本控制两个方面已经满足不了工艺的需求。
太阳棋牌官网版官方版根据自身技术优势和经验研发设计了一系列可寻址测试芯片，通过可寻址电路可以提升芯片密度5X~20X，并且保证高精度设计。该系列测试芯片在多个工艺节点得到设计验证，也实际满足了工艺产品开发和制造过程监控的需求，为集成电路纳米级工艺研发提供有力的成品率提升支持。
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